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杭州高裕電子科技股份有限公司

產(chǎn)品展示

Product Demonstration

Product Demonstration

產(chǎn)品展示

IGBT模塊功率循環(huán)老化測(cè)試系統(tǒng)

符合標(biāo)準(zhǔn):

IEC60749 、AQG324 等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。

適用范圍:

適用于各種封裝形式的大功率IGBT模塊、二極管模塊的功率循環(huán)試驗(yàn)。

技術(shù)特點(diǎn):

嚴(yán)格滿足△Tj≥100℃。 

可實(shí)現(xiàn)秒級(jí)和分鐘級(jí)循環(huán)試驗(yàn)。

檢測(cè)顯示每次循環(huán)的△Tj。


技術(shù)性能

表格 p32.png