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杭州高裕電子科技股份有限公司

產(chǎn)品展示

Product Demonstration

Product Demonstration

產(chǎn)品展示

電容器高溫老化測(cè)試系統(tǒng)

符合標(biāo)準(zhǔn):

MIL-STD-202E、GJB360等標(biāo)準(zhǔn)。

適用范圍:

適用于各種封裝形式的獨(dú)石電容器、膽電容器、電解電容器、云母電容器、薄膜電容器進(jìn)行高溫壽命試驗(yàn)或高溫老化篩選試驗(yàn)。

技術(shù)特點(diǎn):

系統(tǒng)監(jiān)控給電容器自動(dòng)充放電。

實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)每個(gè)試驗(yàn)器件的漏電流。

全過程試驗(yàn)數(shù)據(jù)保存于硬盤中,可輸出Excel試驗(yàn)報(bào)表和繪制全過程漏電流IR變化曲線。


技術(shù)性能

表格 p33.png